一、什么是ePOP ？
ePOP是结合了高性能eMMC和LPDDR封装而成的二合一存储产品，适用于空间受限的嵌入式存储应用环境。全新设计工艺同时也减少了电路连接需求，降低电路板设计时间和难度，提升研发效率，缩短产品上市周期。
ePOP让智能设备装置更轻薄，有更多空间容纳高容量电池，有效提升终端设备的续航能力。
ePOP传输速率、读写速度与eMMC+LPDDR存储方案相同，目前较高版本的eMMC5.1读写速度为400MB/s，主流的LPDDR4/4X传输速率可达4266Mbps。
图1 ePOP封装示意图
二、ePOP应用在哪里 ？
ePOP集成高性能eMMC和LPDDR芯片新设计工艺，体积更小，性能更强。
ePOP嵌入式存储芯片因为体积小、低功耗等优点，适用于智能穿戴、教育电子等对小型化、低功耗有更高要求的终端应用。
三、ePOP
测试项目：
测试设备：
测试内容：
1. Power Test:
tlNIT0
tlNIT1
tlNIT2
VDD/VDDQ In Idle Status
VREFDQ In Idle Status
VDD/VDDQ In Active Status
VREFDQ In Active Status
Power Test Spec & Result
2.CLK Timing:
CLK Differential Average Clock Period
Differential Input Cross Point Voltage
CLK Timing Test Spec
CLK Timing Test Result
CLK Timing Test Result
备注：因为内容较长，本期只选了部分案例。
启威测信号实验室依据ePOP、DDR 、eMMC等多种型号的存储芯片协议规范，选用泰克示波搭建的信号完整性测试平台，欢迎咨询。echo@qwctest.com
